软件开发商 National Instruments 很高兴地宣布推出半导体测试系统开发软件NI STS 21.0，它是一种可用于射频、混合信号和 MEMS 半导体器件的生产就绪型 ATE 解决方案，有助于缩短上市时间并降低测试成本。
21.0版新功能
STS Software 21.0 增加了以下主要新功能：
新硬件支持
- – PXIe-6569 — 增加了对 PXIe-6569 高速串行仪器的支持。
- – PXIe-4137 (40 W) 源测量单元 (SMU) — 增加了对 PXIe-4137 的高功率（40W/10 A，脉冲）SMU 版本的支持。
- – PXIe-4190 — 增加了对 PXIe-4190 LCR 的支持。支持仅适用于具有 CX 配置的 STS 型号。
新的和改进的测试程序开发和调试
– 在 PXIe-5831 + PXIe-5841 上增加了对高达 21.5 GHz 的扩展连续性测试频率范围的支持，并将 STS-5531 作为 STS RF 子系统。
– RF Steps 添加了以下新步骤和示例：
- . WLAN 测试 – 8 GHz 示例序列演示了如何在 PXIe-5831 + PXIe-5841 上使用 STS-5531 作为 STS RF 子系统执行误差矢量幅度 (EVM) 测量和噪声补偿。
- . S 参数测试 – 6 GHz 示例序列演示了如何仅发布 S 参数幅度或 S 参数幅度和相位。
- . NR 测试示例序列演示了如何使用 TSM RF 步骤来实现 NR TXP 测量。
– RF Steps 添加了以下新测量：
- . NR ACP 测量——执行测量偏移和积分带宽的自定义定义。
- . WLAN OFDM ModAcc 测量 – 支持矢量平均类型，可在保留信号频谱的同时降低信号的本底噪声。
- . WLAN 测量——支持 IEEE 802.11be 标准。
– STS 辅助射频工具分享了增强的黄金单位校准工具，用于根据黄金 DUT 或已知良好单位测量计算和更新相关偏移。增强的功能支持多个站点。您可以校准黄金单元，重试失败的黄金单元，检查校准间隔，并指定每个站点黄金单元的最小通过数。
– STS Auxiliary RF Tools 为 InstrumentStudio 分享了增强的 STS RF Switch Control Panel 插件，允许您配置和连接 RF 子系统内部开关和路径以执行 RF 测量。增强的功能扩展了对 PXIe-5831 + PXIe-5841 的支持，将 STS-5531 作为 STS 射频子系统，将测量频率扩展到 21.5 GHz，并支持 PXIe-5841 和 STS-5534 作为 STS 射频子系统。
NI 半导体测试系统 (STS) 是一种生产就绪的 ATE 解决方案，它可以降低测试成本并加快您对越来越多的模拟半导体器件的上市时间。从晶圆测试到封装部件测试，这款小尺寸测试仪能够以高并行测试效率 (PTE) 进行多站点测试，并分享创新的交互式调试体验。凭借数十年的软件开发经验，测试程序开发是图形化的、用户友好的，并且使用起来很直观。STS 建立在实验室级设备上，还可以优化产量并提高质量。
自 1976 年以来，National Instruments 为工程师和科学家分享了加速生产力、创新和发现的工具。NI 的工程图形系统设计方法分享了一个集成的软件和硬件平台，可加速任何需要测量和控制的系统的开发。公司的长期愿景和专注于通过技术改善社会支持其客户、员工、供应商和股东的成功。
Product: Semiconductor Test System Development Software
Version: 21.0
Supported Architectures: x86 or x64
Website Home Page : http://www.ni.com
Languages Supported: english
System Requirements: PC *
Size: 26.0 Gb
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